Vorschlag für eine verbesserte Relais Schutzschaltung ergänzt.
Beschreibung von zwei chinesischen Bausätzen ergänzt.
Beschreibung der Option DD_RAM_OFFSET für bestimmte Text-Displays.
Kurze Beschreibung zum SamplingADC Verfahren im Kapitel Messverfahren.
Erweiterung der Eigenschaften und Bedienungshinweise Kapitels, SamplingADC.
Beschreibung der SHORT_UNCAL_MSG Option.
Beschreibung der WITH_SamplingADC Option.
Beschreibung für Farbdisplay 128x128 und 128x160 ergänzt.
Beschreibung SPI und I2C für Textdisplay ergänzt (Tabelle).
Beschreibung der Option LCD_ST7565_Y_START ergänzt.
Beschreibung für Anschluß von graphischen PCF8812 und PCF8814 Controllern.
Beschreibung der chinesischen LCD-T4 Platine mit graphischem Display.
Beschreibung der LCD_SPI_OPEN_COL Option für die SPI Schnittstelle.
Beschreibung der chinesischen WEI_M8 platine.
Trennung der Display-Pinbelegungstabelle in normal und STRIP_LINE_BOARD.
Erwähnung des RDSon Wertes bei E-MOS Transistoren.
Ergänzung der Beschreibung der Option NO_LONG_PINLAYOUT.
Beschreibung der Option DC_PWR (obere Grenze der Batterieversorgung).
Schaltung für arduino mega (ATmega2560) ergänzt.
Zusätzliche Filterung in VCC Zuleitung von SSD1306 Display ergänzt.
Beschreinung der Fish8840 Änderungen ergänzt.
Neue Menü-Punkte für Ohmmeter und Kondensator-Meßfunktion.
Beschreibung der automatischen Kondensator-Meßfunktion.
Beschreibung der automatischen Ohmmeter-Funktion.
Beschreibung Anschluß SSD1306 mit I2C Schnittstelle.
Beschreibung der Optionen BIG_TP und INVERSE_TP.
Problem mit der Erkennung einer Schutzdiode bei bipolaren Transistoren (Germaniun) mit hohem Reststrom ICE0 beschrieben.
Entwurf eines Interface fuer ein Display mit ST7108 Controller durch einen 74HC164 Chip.
Anschluß eines graphischen Displays mit ST7920 Controller ergaenzt.
1.11 / 07.02.2015
Beschreibung des Impulsdrehgebertests erweitert.
Beschreibung der Programmierung erweitert.
ESR-Messung mit 8us Pulsen dokumentiert.
Beschreibung der Optionen für SSD1306 Kontroller mit I2C Schnittstelle:
 WITH_LCD_ST7565=1306, LCD_INTERFACE_MODE=2 und LCD_I2C_ADDR.
Neue Option LCD_ST7565_H_OFFSET zur besseren Anpassung der horizontalen Displayfenster-Lage.
Beschreibung ESR-Messung überarbeitet.
Beschreibung der Funktionen Kontrast und Zeige Daten ergänzt.
Pinbelegung des Impulsdrehgebers auf PD1 (LCD-D5) geändert.
Beschreibung der Pinbelegung von Displayports für verschiedene ATmega.
Beschreibung der erweiterten Schaltung mit ATmega644/1284 .
Beschreibung des Anschluß eines grafischen Displays mit ST7565 Kontroller. 
Beschreibung der Makefile Option WITH_VEXT für die externe Spannungsmessung ergänzt.
Impulsdrehgeber Typ 4 für Up/Down Taster und Typ 5 für höchste Auflösung des Drehgebers.
Beschreibung des Zusatzes Impulsdrehgeber für die Menübedienung ergänzt.
Abgleich der Quarz Frequenz mit 1PPS Signal eines GPS-Empfängers ergänzt.
Im Vorwort: Dank an weitere Personen eingebaut.
Beschreibung für den ST7565 Kontroller (Optionen) ergänzt.
Beschreibung der Zusatzfunktion Selbsttest, vollständiger Test nur mit Menü-Funktion,
 wenn mit Menü, macht direkter Selbsttest nur Kalibration mit externem Kondensator nur beim ersten Mal.
Beschreibung der Zusatzfunktion Impulsdrehgeber.
1.10 / 09.04.2014
Einige Fehler mit größer und kleiner Zeichen beseitigt.
Das Kapitel Bedienung wegen Menuefunktion überarbeitet.
Das Kapitel Eigenschaften überarbeitet wegen Menuefunktionen.
Beschreibung des Meßverfahrens für separate C+ESR Messung.
Zusatzabfrage wegen Falschdetektion von TRIAC als NPNp ergänzt.
Beschreigung des Frequenzgenerators und des Pulsweitengenerators.
Beschreibung der Makefile Optionen TQFP_ADC6 und TQFP_ADC7 ergänzt.
Beschreibung des Verfahrens der Frequenzmessung ergänzt.
Beschreibung der Auswahl von Zusatzfunktionen mit der Menü-Funktion: Frequenzmessung Frequenzgenerator
Änderung bei der Erkennung von Verarmungstypen im Ablaufplan geändert.
Ablaufplan für Thyristor und TRIAC Erkennung ergänzt.
Beschreibung der Cursor Aktivierung bei unkalibrierten Tester ergänzt.
Transistor Messbeispiele in einer ttinfo.pdf gezeichnet.
Korrektur Ablaufplan wegen D-Mos Erkennung.
Ablaufplan um IGBT Erkennung erweitert
Beschreibung der Ausgabe von Kollektor Restströmen.
Ablaufplan der Transistortests angepaßt.
Beschreibung Kollektor-Reststrom Untersuchung für Germanium und JFET.
Vereinfachter Ablaufplan der Transistor-Tests ergänzt.
1.09 / 30.11.2013
Beschreibung der Makefile Optionen NO_COMMON_COLLECTOR_HFE, NO_COMMON_EMITTER_HFE und NO_TEST_T1_T7 .
Ergänzung der litauischen Sprache.
Hinweis auf das notwendige Drücken des Start-Tasters zum Starten des Selbsttests ergänzt.
Berichtigung der Display-Anzeigezeit auf 28 Sekunden.
1.08 / 1.10.2013
Bei BAT_POOR Pegel unter 3.25V ist der Warnpegel nur 0.2V höher.
Ergänzung der LCD_DOGM Option im Konfigurations-Kapitel.
Ergänzung der Russischen und Ukrainischen Sprache.
Beschreibung für Stromverstärkungsfaktor in Kollektor und Emitterschaltung angepasst.
Beschreibung der Reststrommessung bei Einzeldioden ergänzt.
Grenze für die Erkennung von Verarmungs FET angepasst.
Ergänzung der protugiesischen Sprache LANG_BRASIL  
Ergänzung des Parameters BitClock für avrdude bei der Konfiguration in der Makefile.  
Ergänzung von Programmers Notepad Abbildungen im Hardware-Kapitel.
Ergänzung von ESR-Messungen verschiedener Elektrolyt-Kondenstoren.
1.07 / 19.4.2013
Beschreibung der Option NO_NANO ergänzt.
Unterkapitel der Kondensatormessung zu Spannungsverlust Vloss ergänzt.
Widerstandsmessung kleiner 10 Ohm mit neuer ESR-Meßmethode als Tabelle ergaenzt.
Kalibrationsanweisungen und Eigenschaften an die neue ESR-Messung angepasst.
Neue ESR-Meßmethode beschrieben mit Meßbeispielen.
Umstellung BAT_POOR Pegel auf mV Einheiten beschrieben, bei unter 1.3V nur 0.1V Warnoffest.
ESR-Messung ab 0.45uF mit 500kHz ADC Clock mit Messbeispielen beschrieben.
Beschreibung der Auflösung der Induktivität 0.1mH oder 0.01mH ergänzt.
1.06 / 23.2.2013
Beschreibung Option REF_L_KORR ergänzt.
Wahlmöglichkeit für Pinbelegung 321=... ergänzt.
Option externe Spannungsmessung im Hardware-Kapitel und bei Konfiguration ergänzt.
Fehler mit fehlendem Pull-Up im Hardware-Kapitel ergänzt.
Unterkapitel China Clone im Hardware-Kapitel ergänzt.
Unterkapitel Umrüstung alter Tester im Hardware-Kapitel ergänzt.
Tippfehler bei ESR-Messdaten beseitigt.
Beschreibung der Option INHIBIT_SLEEP_MODE im Konfigurationsteil ergänzt.
1.05 / 19.01.2013
Erweiterung mit Relais-Schutz im Hardware-Kapitel ergänzt.
Oszillogramm der ESR-Messung eines 4.4uF Kondensators ergänzt.
Seriell Ausgang PC3 in Schaltplan ergänzt.
Ergänzung der Option RESTART_DELAY_TICS für den Schlafmodus ohne Quarz.
Ergänzung der Dokumentation Selbsttest Spannungsteiler 470k/680 .
Fehlersuche Hardware um Hinweis mit LED ergänzt.
Oszilloskop Bild des 50Hz Testsignals ergänzt (Selbsttest).
Hinweise für Gate Schwellwertspannung von E-MOS Transistoren ergänzt
1.04 / 01.12.2012
Bedienungshinweise J-FET / D-MOS Messung
Bedienungshinweise NPN, PNP Transistormessung
Option EBC_STYLE im Konfigurationsteil ergänzt
Halbleitertests mit ATmega8 und ATmega168 wiederholt.
Bedienungshinweise überarbeitet
1.03 / 24.11.2012
Dank an Beteiligte im Vorwort ergänzt.
Ergebnisse der Widerstandsmessung von 9 ATmega8 ergänzt.
Ergebnisse der Kondensator Messung von 9 ATmega8 ergänzt.
Optionen C_MESS und R_MESS fuer die Konfiguration entfernt.
1.02 / 01.11.2012
Beschreibung der Änderungen für die Streifenleiterversion ergänzt.
Weitere Beispiele für Induktivitätsmessungen ergänzt.
Meßverfahren für Induktivitäten ohne 680 Ohm Widerstand bis zu einem Widerstandswert von 24 Ohm, nicht 8 Ohm.
1.01 / 19.10.2012
Induktivitätsmessung bei Widerständen kleiner 2100 Ohm, nicht 2800 Ohm.
Englische Beschreibung der Induktivitätsmessung ergänzt.
Ergänzung von Beispielmessungen zur ESR-Messung.
Ergänzung des Kondensatorkapitels um die Beschreibung der ESR Messung.
1.00 / 23.9.2012
Ergängung der JFET Messung.
Ergänzung Kapitel Induktivitätsmessung.
Beschränkung hFE < 65536 ist entfallen, Text angepaßt.
Beschreibung der Option UF_OUT_MV entfernt, Option ist entfallen.
Erläuterung der Selbsttest-Funktionen ergänzt und umgestellt wegen Differenzausgaben.
Beispiele fuer Autocalibration der Widerstandsmessung eingefuegt.
0.99 / 15.8.2012
Beispiele fuer Autocalibration der Kondenstormessung eingefuegt.
Autokalibration fuer Kondensatormessung beschrieben.
Nullabgleich fuer Kondensatoren und Pin-Ausgangswiderstands Abgleich beschrieben.
Fehlerverlauf der Kondensatormessung mit mehr Folien-Kondensatoren anstelle von Elkos.
Fehlerverlauf der unkorrigierten Kondensatormessung für jeweils 3 mega168, mega168A und mega168PA eingefuegt.
Kapitel Bedienungshinweise eingefuegt
Bei Konfiguration die Anzeigeverlaengerung bei Mehrfachmessung durch laengeres Druecken des Startknopfs beschrieben.
0.98 / 26.7.2012
Beschreibung der neuen Option C_H_KORR für große Kondensatoren.
Beschreibung der Makefile Option UF_OUT_MV ergänzt.
Änderung der Makefile Option REF_KORR zu REF_C_KORR, probeweise REF_R_KORR eingefügt.
Anpassungen der Widerstandsmessung.
Fehlerkurven der Widerstandsmessung mit Minimal und Maximalwerten aus 10 Messungen.
0.97 / 09.06.2012
erste Transistortester Dokumentation in deutsch und englisch
